● 全自動可編程電腦控制, 同時測量48 個樣品；

● 光激發有線性調制OSL 模式和脈沖OSL 模式；

● 加熱溫度最高為700℃；

● 可進行樣品的紅外釋光（IRSL）、藍光釋光(BLSL) 和熱釋光(TL) 測量；

● 單個樣品可被α 和β 放射源(90Sr/90Y 和 241Am) 或小型的X- 射線發生器照射。

光探測系統

光探測系統測量發出的熒光，包括一個光電倍增管和匹配的濾光片。樣品室進行熱釋光測量時可抽真空，計算機控制氮氣輸入，使加熱后的樣品能快速冷卻。

標準的Risφ 讀出器有配套的濾光片：75mm Hoya、U-340、2mm Schott BG 39、4mm Corning 7-59。

?熱釋光系統

利用位于PMT 下的加熱元件就可進行熱激發。加熱元件有兩個功能：

● 加熱樣品；

● 把樣品提升到測量位置。樣品加熱到700℃，升溫速率可在0.1~10 K/s 之間選擇。氮氣流冷卻電熱絲，防止加熱系統在高溫下氧化。

光釋光系統

使用發光二極管陣列進行光激發，包括CW 和LMOSL激發。發光二極管陣列配有光反饋服務系統來確保激發功率的穩定。二極管和樣品之間的距離大約為20mm。

標準RisφTL/OSL 讀出器裝有兩個光激發源：

紅外光源( 波長870nm) 最高激發能量可達140mW/cm2 或者更高，并能在最大值的0~100% 之間任意調整；

藍光光源( 波長470nm) 最高激發能量≥ 50mW/cm2。

單顆粒聚焦OSL 激光系統

Risφ 單顆粒OSL 附件能進行礦物質的微小粒子的測量。單個微小顆粒被放在特制的鋁制盤中，這個盤上有100個孔，300mm 深，直徑為300mm，10×10 的柵格，間隔600μm，因此在100 個微粒上，能同時進行輻照和加熱，而利用聚光激光器能分別測量單個微粒的OSL 信號。

?輻照裝置

系統有三種輻照方式：α、β 和X 射線輻照，用軟件來控制輻照類型。